ZW SERIA KEEVITUSDIOODI KONTROLL JA PAKEND
Katsemeetodid ja kontrollireeglid
1. Partii kontrollimine partiide kaupa (A-rühma kontroll)
Iga tootepartii tuleb kontrollida vastavalt tabelile 1 ja kõik tabelis 1 olevad kaubad on mittepurustavad.
Tabel 1 Kontrollimine partii kohta
| Grupp | ÜlevaatusÜksus | Kontrollimeetod | Kriteerium | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Välimus | Visuaalne kontroll (tavalistes valgus- ja nägemistingimustes) | Logo on selge, pinnakate ja plaadistus on koorimata ja kahjustusteta. | 1.5 |
| A2a | Elektrilised omadused | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) JB/T 7624—1994 | Polaarsus vastupidine:VFM> 10 USL IRRM> 100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 ℃) JB/T 7624—1994 | Nõuetele vastav kaebus | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) JB/T 7624—1994 | Nõuetele vastav kaebus | ||
| Märkus. USL on maksimaalne piirväärtus. | ||||
2. Perioodiline ülevaatus (B- ja C-rühma kontroll)
Tabeli 2 kohaselt tuleks tavatootmises valminud tooteid kontrollida igal aastal vähemalt ühte B- ja C-rühma partiid ning (D)-ga tähistatud kontrollpunktid on destruktiivsed katsed.Kui esialgne kontroll on kvalifitseerimata, võib lisaproovi võtmist uuesti kontrollida vastavalt lisa tabelile A.2, kuid ainult üks kord.
Tabel 2 Perioodiline kontroll (rühm B)
| Grupp | ÜlevaatusÜksus | Kontrollimeetod | Kriteerium | Proovivõtuplaan | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Temperatuuri tsükkel (D), millele järgneb tihendamine |
| Mõõtmine pärast testi:VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL mitte leke | 6 | 1 |
| CRRL | Esitage lühidalt iga rühma asjakohased atribuudid, VFM ja minaRRMväärtused enne ja pärast testi ning testi järeldus. | ||||
3. Identifitseerimiskontroll (D-rühma kontroll)
Kui toode on viimistletud ja tootmishinnangusse viidud, tuleks lisaks A-, B-, C-rühma kontrollidele teha ka D-rühma test vastavalt tabelile 3 ja (D)-ga tähistatud kontrollipunktid on destruktiivsed katsed.Valmistoodete tavapärast tootmist testitakse vähemalt ühte D-rühma partiid iga kolme aasta järel.
Kui esialgne kontroll ebaõnnestub, võib lisaproove uuesti kontrollida vastavalt lisa tabelile A.2, kuid ainult üks kord
Tabel 3 Identifitseerimiskatse
| No | Grupp | ÜlevaatusÜksus | Kontrollimeetod | Kriteerium | Proovivõtuplaan | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Soojustsükli koormuskatse | Tsükliajad: 5000 | Mõõtmine pärast katset:VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Löök või vibratsioon | 100g: hoidke 6 ms, poolsiinuslainekuju, 3 vastastikku risti asetseva telje kaks suunda, 3 korda kummaski suunas, kokku 18 korda.20g: 100-2000Hz, 2h mõlemas suunas, kokku 6h. | Mõõtmine pärast testi: VFM≤1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Esitage lühidalt iga rühma asjakohased atribuutide andmed, VFM , IRRMja minaDRMväärtused enne ja pärast testi ning testi järeldus. | |||||
Märgistamine ja pakendamine
1. Märgi
1.1 Märgistus tootele sisaldab
1.1.1 Tootenumber
1.1.2 Terminali tunnusmärk
1.1.3 Ettevõtte nimi või kaubamärk
1.1.4 Kontrollipartii tunnuskood
1.2 Logo karbil või lisatud juhend
1.2.1 Toote mudel ja standardnumber
1.2.2 Ettevõtte nimi ja logo
1.2.3 Niiskus- ja vihmakindlad sildid
1.3 Pakend
Toote pakendamise nõuded peavad vastama siseriiklikele määrustele või kliendi nõuetele
1.4 Tootedokument
Dokumendile tuleks märkida toote mudel, teostusstandardi number, elektrilise jõudluse erinõuded, välimus jne.
ThekeevitusdioodJiangsu Yangjie Runau Semiconductori toodetud on laialdaselt kasutusel takistuskeevitusseadmetes, keskmise ja kõrge sagedusega keevitusmasinas kuni 2000 Hz või rohkem.Ülimadala edasisuunalise tipppinge, ülimadala soojustakistuse, tipptasemel tootmistehnoloogia, suurepärase asendusvõime ja ülemaailmsete kasutajate jaoks stabiilse jõudlusega on Jiangsu Yangjie Runau Semiconductori keevitusdiood üks kõige usaldusväärsemaid Hiina elektriseadmeid. pooljuhttooted.